发明 一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法 【特价】 高校 已公示无需二变
芯片设计 集成电路测试 半导体技术 1人
G06F30/3315
摘要：本发明公开了一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法，具体步骤如下：步骤1，利用EDA工具对目标系统进行静态时序分析，确定关键路径；步骤2，将步骤1确定的关键路径进行复制，得到复制的时序路径；步骤3，将经步骤2复制得到的时序路径进行信号钳位；步骤4，将步骤3中进行信号钳位后的时序路径进行高低频率测试；本发明主要用来测试电路的最高工作频率，在电路调节为不同频率的工作模式下，通过检查复制时序电路输入信号上升沿和延迟相位检查信号下降沿的相位差与时钟周期的关系，便能得出电路的临界工作频率。
